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層狀高鎳NCM三元正極是廣泛運(yùn)用于電動(dòng)車的高容量商業(yè)鋰離子電池正極材料。然而，在循環(huán)過程中的結(jié)構(gòu)劣化會造成其不可逆的容量衰減，其中高電壓下產(chǎn)生的層間滑移（planargliding）和晶內(nèi)微裂紋（microcracking）為結(jié)構(gòu)劣化的主要表現(xiàn)形式。晶格坍塌（Lattice-collapse），也是一種被人們熟知的NCM在高電壓區(qū)間發(fā)生的*有現(xiàn)象，即為在退鋰過程中，垂直c軸的（003）層狀晶面在低電壓區(qū)間緩慢膨脹，高壓區(qū)間（約4.1V以上）快速縮減從而“坍塌”。目前的研究只知...

偏光顯微鏡作為一種特殊的顯微鏡，在科研領(lǐng)域發(fā)揮著舉足輕重的作用。其重要性不僅體現(xiàn)在對樣品微觀結(jié)構(gòu)的精細(xì)觀察上，還體現(xiàn)在對樣品性質(zhì)的深入分析上。以下將詳細(xì)闡述偏光顯微鏡在科研中的重要作用與優(yōu)勢。一、重要作用揭示樣品微觀結(jié)構(gòu)：偏光顯微鏡能夠利用偏光現(xiàn)象增強(qiáng)樣品中的細(xì)節(jié)和對比度，從而清晰地揭示樣品的微觀結(jié)構(gòu)。這對于材料科學(xué)、地質(zhì)學(xué)、生物學(xué)等領(lǐng)域的科研工作者來說至關(guān)重要，因?yàn)樗麄冃枰钊肓私鈽悠返膬?nèi)部結(jié)構(gòu)以揭示其性質(zhì)和功能。分析樣品光學(xué)性質(zhì)：通過偏光顯微鏡，科研工作者可以觀察和分析樣...

在科技日新月異的今天，高精度測量技術(shù)已成為眾多科研與工業(yè)領(lǐng)域至關(guān)重要的重要工具。其中，5軸空間3D共聚焦白光干涉輪廓儀以其杰出的性能和廣泛的應(yīng)用領(lǐng)域，成為了精密測量領(lǐng)域中的一顆璀璨明星。這款儀器結(jié)合了高精度旋轉(zhuǎn)模塊和先進(jìn)的3D光學(xué)輪廓儀技術(shù)，實(shí)現(xiàn)了在固定位置上的全自動(dòng)3D表面測量。其特殊的五軸設(shè)計(jì)，使得樣品可以在多個(gè)方向上進(jìn)行靈活旋轉(zhuǎn)和定位，從而確保了對復(fù)雜曲面和不規(guī)則形狀樣品的全表面精確測量。5軸空間3D共聚焦白光干涉輪廓儀的測量原理基于白光干涉現(xiàn)象。光源發(fā)出的光經(jīng)過擴(kuò)束準(zhǔn)...

蔡司掃描電鏡（SEM）作為現(xiàn)代材料科學(xué)、生命科學(xué)等領(lǐng)域的重要分析工具，其樣品的制樣過程直接關(guān)系到觀察結(jié)果的準(zhǔn)確性和可靠性。以下是蔡司掃描電鏡樣品制樣的基本步驟，旨在幫助用戶正確制備樣品，從而獲得高質(zhì)量的微觀圖像。首先，根據(jù)樣品的性質(zhì)（如導(dǎo)電性、硬度等）選擇合適的制樣方法。對于導(dǎo)電性良好的樣品，如金屬，可以直接使用導(dǎo)電膠將其固定在樣品臺上。而對于導(dǎo)電性較差或非導(dǎo)電的樣品，如陶瓷、塑料等，則需要在其表面進(jìn)行鍍膜處理，以增加導(dǎo)電性，避免電荷積累影響觀察。其次，進(jìn)行樣品的清洗和干燥。...

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隨著國家對新材料和新工藝的迫切需求，功能無機(jī)材料和化工產(chǎn)品的研發(fā)與應(yīng)用正在蓬勃發(fā)展。與此同時(shí)，如何進(jìn)行高分辨率的微觀表征和實(shí)時(shí)過程監(jiān)測，也成為相關(guān)研究的重要課題。在這一領(lǐng)域，掃描電鏡以其獨(dú)*的成像與分析功能，提供了極*價(jià)值的解決方案。澤攸科技自主研發(fā)的ZEM18掃描電鏡實(shí)現(xiàn)了納米級空間分辨率，可以直接觀測樣品的微納結(jié)構(gòu)。同時(shí)，其配備的能譜系統(tǒng)可以分析材料元素組成，研究材料結(jié)構(gòu)與性能之間的內(nèi)在關(guān)系。此外，ZEM18還可進(jìn)行各種原位測試，實(shí)現(xiàn)對化學(xué)反應(yīng)過程的實(shí)時(shí)、動(dòng)態(tài)監(jiān)測。這為研...

掃描電鏡是一種廣泛應(yīng)用于材料科學(xué)、半導(dǎo)體工藝等領(lǐng)域的*備工具，它可以通過探測樣品表面激發(fā)出來的電子信號，對物質(zhì)微觀形貌進(jìn)行表征。在半導(dǎo)體工藝中，掃描電子顯微鏡被廣泛應(yīng)用于器件結(jié)構(gòu)的實(shí)時(shí)檢測和剖面分析方面，為生產(chǎn)和研發(fā)提供了其他測試分析儀器所無法提供的直接測量信息。澤攸科技的ZEM18掃描電鏡，可以實(shí)現(xiàn)高分辨率的表面形貌觀測、元素分析、晶體結(jié)構(gòu)分析等功能，適用于半導(dǎo)體材料的表征和分析。我們的掃描電鏡可以幫助客戶實(shí)現(xiàn)器件結(jié)構(gòu)的實(shí)時(shí)檢測和剖面分析，提高半導(dǎo)體器件的制造質(zhì)量和性能穩(wěn)定...