對干式電解拋光工藝的表征

在GPAINNOVA，S neox Five Axis專門用于量化拋光工藝的質(zhì)量，并說明使用DLyte拋光后樣品粗糙度降低的情況

GPAINNOVA正在對制造團隊得以生產(chǎn)高質(zhì)量金屬表面的方法進行改造。DLyte系列機器基于Drylyte**技術：這是第一個干式電解拋光工藝，為業(yè)內(nèi)的金屬合金表面修整提供了解決方案。應用范圍從美觀部件打磨、倒圓、去毛刺到表面修勻和高光澤拋光。Sensofar的S neox Five Axis使我們能夠采用現(xiàn)有表面修整解決方案達到最高質(zhì)量。

在GPAINNOVA，Sensofar S neox Five Axis專門用于量化拋光工藝，并說明使用DLyte拋光后樣品粗糙度降低的情況。樣品可能各有不同，下至非常粗糙的增材制造零件，上至鏡面表面，而Sensofar系統(tǒng)包括多焦面疊加、共聚焦和干涉測量技術等多種功能，因此所有樣品都可以使用Sensofar系統(tǒng)進行測量。
下文所述為DLyte功能的一個簡短示例。可以看到DLyte拋光前后由CoCr制成的股骨組件。

在Sensofar系統(tǒng)之前，我們使用接觸式觸針輪廓儀，獲取的參數(shù)只有輪廓參數(shù)（Ra、Rz、Rq等）。盡管Ra是常用的參數(shù)，但它并未提供有關表面空間結構的任何信息。但是從現(xiàn)在起，借助Sensofar計量技術，可以測量Sa（Ra向表面的延伸）等表面參數(shù)。Sa的測量考慮樣品表面粗糙度，可以比Ra更好地表征表面。測量某個區(qū)域的主要優(yōu)點是有可能掃描更大的區(qū)域，并生成適合作為樣品概觀的數(shù)毫米大小的表面，從而獲得更可靠的數(shù)值。3D區(qū)域表面參數(shù)按照ISO 25178標準計算（對表面紋理基礎的重新定義），包含以下參數(shù)：Sa、Sq、Ssk、Sku、Sp、Sv和Sz。

通過干涉測量技術，采用50x DI物鏡獲得以下測量結果。干涉測量技術使我們能夠測量和上文所述股骨組件樣品一樣的鏡面表面。

S neox Five Axis不僅可用于表征拋光工藝后表面粗糙度降低的情況，還可用于證明借助Drylyte技術保持了拋光零件的公差。下文所示為加工零件的外形和形狀測量示例，該案例使用了多焦面疊加技術。

可以看出，由于采用干涉測量法拍攝黑白圖像和彩色地圖圖像，采用DLyte工藝之后，用低于0.05 µm的Sa參數(shù)定量的樣品表面粗糙度降低。

此外，通過使用Ai多焦面疊加技術的互補形狀測量，證明了形狀得到保留。S neox Five Axis是一種多功能計量工具，滿足我們的測量需求，從現(xiàn)在起將成為DLyte實驗室的得力工具。